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光无源器件测试系统研究
Research of passive optical component testing
【作者】 李健； 安俊明； 郜定山； 李建光； 王红杰； 胡雄伟；
【Author】 LI Jian, AN Jurwning, GAO Ding-shan, LI Jian-guang, WANG Hong-jie, HU Xiong-wei(Institute of Semiconductors, The Chinese Academy of Science, Beijing 100083, China)
【机构】 中国科学院半导体研究所光电子研究发展中心；
【摘要】 综合分析了光无源器件的测试内容及测试方法。针对光无源器件的特点,对其插入损耗、偏振相关损耗等主要性能指标的测试方案、测试仪器的选择等方面进行了分析。并根据光无源器件的发展趋势,分析了光无源器件的偏振模色散及微分群延时的测试方法。
【Abstract】 The method of the passive optical component testing was analyzed. Aiming at the specialties of the passive optical component, the proper testing scheme and instruments were provided to verify the component’s insert loss, polarization dependent loss and other main indices. Bases on the development of passive optical component, especially focuses on the 40Gbps system, the testing method of the polarization-mode-dispersion and difference-Group-Delay of the component was discussed.
【Key words】 passive optical waveguide component； testing； polarization dependent loss； polarization mode dispersion；
- 【会议录名称】 2004全国光学与光电子学学术研讨会、2005全国光学与光电子学学术研讨会、广西光学学会成立20周年年会论文集
- 【会议名称】2004全国光学与光电子学学术研讨会;2005全国光学与光电子学学术研讨会暨广西光学学会成立20周年年会
- 【会议时间】2004-08-01;2005-10-15
- 【会议地点】中国山东烟台;中国桂林
- 【分类号】TN256
- 【主办单位】中国兵工学会;中国兵工学会、中国兵工学会光学专业委员会、广西光学学会、《光学技术》杂志社