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La0.5Sr0.5CoO3-δ薄膜的制备及其电学性能

Preparation and electrical properties of La0.5Sr0.5CoO3-δ thin films

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【作者】 张利文丁铁柱王强姜涛

【Author】 ZHANG Li-wen DING Tie-zhu WANG Qiang JIANG Tao (Department of Physics,College of Sciences and Technology,Inner Mongolia University,Hohhot 010021,China)

【机构】 内蒙古大学理工学院物理系

【摘要】 采用离子束溅射法在氧化钇稳定的氧化锆 (YSZ)和 SiO2衬底上溅射 La0.5Sr0.5CoO3-δ薄膜,测试了不同工艺制备的 La0.5Sr0.5CoO3-δ薄膜样品的 XRD 谱和电导率.分析了薄膜表面微结构以及电学性能.结果表明:在 YSZ 衬底上生长的 La0.5Sr0.53CoO3-δ薄膜随着热处理温度的升高取向增强,当薄膜经过750℃热处理后结晶度最好;各样品直流电导率在低温段的 Arrhenius 曲线近似为直线,表明材料的导电行为符合小极化子导电机制:交流电导率在低频段(<100kHz)电导率主要是靠晶界导电贡献的,而在高频区(>100kHz),样品对交流电响应更加明显,电导率主要是靠晶粒导电贡献的。

【Abstract】 Thin films of La0.5Sr0.5CoO3-δwere grown on yttria-stabilized zirconia(YSZ)single crystal and SiO2 substrates by ion-beam sputtering method.The conductivity and the XRD spectra of specimen were measured.The surface microstructure and electrical properties were analyzed.The results show that the La0.5Sr0.5CoO3-δfilms which on the YSZ have the tendency to strengthen in orientation with the rising of heat treatment temperature.When the heat treatment temperature reach 750℃,the crystalline grain is the biggest;The DC conductivity Arrhenius plots are approached to linearity,indicates the conductivity of specimen is consistent with the small polaron mechanism;The AC conductivity shows the switch over from grain-boundary process at low frequency to the bulk conduction process at high frequency, also the response of AC conductivity is more obviously at high frequency.

【关键词】 La0.5Sr0.5CoO3-δ薄膜XRD电导率
【Key words】 La0.5Sr0.5CoO3.6thin filmsXRDconductivity
【基金】 国家自然科学基金(10464001)
  • 【会议录名称】 第六届中国功能材料及其应用学术会议论文集(2)
  • 【会议名称】第六届中国功能材料及其应用学术会议
  • 【会议时间】2007-11
  • 【会议地点】中国湖北武汉
  • 【分类号】TB383.2
  • 【主办单位】重庆仪器材料研究所、中国仪器仪表学会仪表材料分会、国家仪表功能材料工程技术研究中心
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