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退火温度对磁控溅射制备的β-FeSi2薄膜的影响
Effects of annealing temperature on the sputtered β-FeSi2 film
【作者】 梁艳; 谢泉; 曾武贤; 张晋敏; 杨吟野; 肖清泉; 任雪勇;
【Author】 LIANG Yan XIE Quan ZENG Wu-xian ZHANG Jin-min YANG Yin-ye XIAO Qing-quan REN Xue-yong (Department of Electronic Science and Information Technology,Guizhou University,Guiyang 550025,China)
【机构】 贵州大学电子科学与信息技术学院;
【摘要】 采用磁控溅射的方法,在高真空条件下,沉积金属 Fe 到 Si(100)衬底上,然后通过真空退火炉在不同温度条件下对样品进行热处理,直接形成了β-FeSi2 薄膜.采用 X 射线衍射仪(XRD)对样品进行了晶体结构分析,利用卢瑟福背散射(RBS)对 Fe-Si 化合物的形成过程中的 Fe 原子和 Si 原子的互扩散机理进行了研究,利用扫描电镜(SEM)对样品表面的显微结构进行表征,结果表明,在900℃条件下退火能够得到质量很好的β-FeSi2薄膜,超过这一温度β相将开始向α相转化,到1000℃,β-FeSi2全部转化为αFeSi+2.
【Abstract】 In this paper,Fe films were deposited on Si(100)substrates by magnetron sputtering method,then annealed at the temperature range of 600℃ to 1000℃ for 2h.The samples were analyzed by X-ray diffraction(XRD),scanning electron microscope(SEM)and Rutherford backscattering(RBS).The results show that the film with best microstructure and crystal properties is obtained at the annealing temperature of 900℃ for 2h.The β-FeSi2 phase will begin to transform into α-FeSi2 phase when the temperature above 900℃ and there is only α-FeSi2 at the temperature of 1000℃.
【Key words】 Fe/Si compound; annealing; temperature; β-FeSi2 film; XRD; SEM; RBS;
- 【会议录名称】 第六届中国功能材料及其应用学术会议论文集(1)
- 【会议名称】第六届中国功能材料及其应用学术会议
- 【会议时间】2007-11
- 【会议地点】中国湖北武汉
- 【分类号】TB383.2
- 【主办单位】重庆仪器材料研究所、中国仪器仪表学会仪表材料分会、国家仪表功能材料工程技术研究中心