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表面活性剂浓度对纳米介孔SiO2薄膜结构的影响
Influence of surfactant concentration on the structures of the mesoporous SiO2 films
【作者】 姚兰芳； 杜梅芳； 吴兆丰； 吴广明； 沈军； 王珏；
【Author】 YAO Lan-fang, DU Mei-fang, WU Zhao-feng, WU Guang-ming, SHEN Jun, WANG Jue(1. Pohl Institute of Solid State Physics, Tongji University, Shanghai 200092, China; 2. Science College, University of Shanghai for Science & Technology, Shanghai 200093, China)
【机构】 同济大学波耳固体物理研究所； 上海理工大学理学院物理系；
【摘要】 利用溶胶-凝胶技术,在酸性条件下,采用十六烷基三甲基溴化氨(CTAB)为表面活性剂,正硅酸乙酯为硅源,以及二次去离子水,盐酸为催化荆等原料制备前驱体溶胶.利用表面活性剂与硅源水解后形成的聚集体相互作用,在溶液中形成分子自组装体,通过简单提拉迅速蒸发溶剂等方法制备二氧化硅-表面活性剂纳米介孔薄膜.分析了表面活性剂浓度对薄膜相结构的影响,发现表面活性剂浓度的变化,对薄膜的微结构和性能都有影响,通过调节表面活性剂的浓度可以对该纳米薄膜的微观结构和性能等进行控制,对样品进行了红外光谱.X射线衍射结构分析,原干力显微镜观察表面形貌.
【Abstract】 A precursor sol containing tetraethoxysilane (TEOS), surfactant-templated and acid catalyst was prepared by sol-gel process. Depositing the precursor sol on a substrate wherein evaporation of solvent and water causes the formation of mesostructured films on the substrate surface. The interaction between polymer after hydrolysis of tetraethoxysilane and surfactant was used to form molecules self-assembly in the solution by rapid solvent evaporation during dip coating. Influence of surfactant concentration on the structures of the mesoporous SiO2 films was analysed. With adjusting surfactant concentration , mesostructure could be controlled. XRD, FTIR, AFM and UV -VIS-NIR spectrophotometry was used to characterize the films.
- 【会议录名称】 第五届中国功能材料及其应用学术会议论文集Ⅱ
- 【会议名称】第五届中国功能材料及其应用学术会议
- 【会议时间】2004-09
- 【会议地点】中国北京·秦皇岛
- 【分类号】TB383
- 【主办单位】国家仪表功能材料工程技术研究中心、国家“863”计划新材料领域专家委员会、中国仪器仪表学会仪表材料学会、中国金属学会、中国稀土学会、中国复合材料学会、中国有色金属学会、重庆仪表材料研究所、北京有色金属研究总院、包头稀土研究院、钢铁研究总院、北京工业大学、燕山大学、山东大学、云南大学、上海交通大学、华中科技大学、天津大学、四川大学、湖南大学、大连理工大学、南京大学、清华大学、西南师范大学、北京科技大学、北京大学、厦门大学、中南大学、电子科技大学、重庆大学、福州大学、吉林大学、哈尔滨工业大学、武汉大学、西安理工大学、北京交通大学、西北工业大学、苏州大学、东北大学、复旦大学、武汉理工大学、浙江大学、北京理工大学、北京航空航天大学、中国科技大学、西南交通大学、南开大学、《功能材料与器件学报》编辑部、《功能材料》编辑部