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超导薄膜表面状态的XPS研究

Study of the Surface State of High Temperature Superconducting Thin Films by XPS

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【Author】 Xie Hong Ning Yonggong Wang Ruilan~+ Li Hongcheng~+ (Ist.of Information Materials Engineering,Univ,of Electronic Science and Technology,Chengdu,610054,China) (+National Laboratory for Superconductivity,Institute of Physics,Chinese Academy of Science,Beijing, 100080,China)

【机构】电子科技大学信息材料工程学院；中科院物理所超导国家重点实验室；

【摘要】采用XPS分析方法对YBa₂Cu₃O_7-8和GdBa₂Cu₃O_7-8超导薄膜进行了分析研究。发现Ba3d_5/2的XPS峰在778eV、780eV结合能处出现了双峰。通过角分辨XPS及失超样品分析,证实了778eVW处的Ba3d_5/2峰代表了膜内超导相中的Ba,而780eV处的Ba3d_5/2峰则代表了表面非超导层中的Ba。表面非超导层的厚度采用近似计算法进行了计算。更多还原

【Abstract】 XPS is applied to analyse the YBa₂Cu₃O_7-δ/YSZ and GdBa₂Cu₃O_7-δ high temperature Superconducting thin films in this paper.Two components of Ba3d_5/2 at 778eV and 780eV are observed in XPS spectra of barium.XPS angle-resolved analysis and failure sample examination indicate that the lower component of Ba3d_5/2 represents the non-superconducting overlayer.The thickness of overlayer is approximately calculated.更多还原

【关键词】超导薄膜；表面状态；表面层； XPS；薄膜厚度；
【Key words】 superconducting film； surface state； surface layer； XPS； thickness；

【会议录名称】第二届中国功能材料及其应用学术会议论文集

【会议名称】第二届中国功能材料及其应用学术会议

【会议时间】1995-10-23
【会议地点】中国四川成都
【分类号】TB383.2

【主办单位】中国仪器仪表学会仪表材料学会、中国金属学会材料科学学会、中国物理学会发光分会、中国光学学会薄膜专业委员会、机械工业部重庆仪表材料研究所、《功能材料》编辑部、大连理工大学、中国科技大学、北京科技大学、吉林大学、东北大学、中国科学院上海冶金研究所、中国科学院半导体研究所、北京大学、清华大学、南京大学、华中理工大学、武汉工业大学、电子科技大学、四川联合大学、西北工业大学、北京工业大学、东南大学、青岛化工学院、北京航空航天大学、山东工业大学

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