【作者】 周红； 沈森祖； 王鲁宁；

【Author】 ZHOU Hong, SHEN Sen-zu, WANG Lu-ning Wuhan Digital Engineering Institute, Wuhan, China, 430074

【机构】 武汉数字工程研究所；

【摘要】 本文主要描述了舰船通用微电子器件的老化筛选技术。具体包括常温初测、低温测试、高温测试、高低温冲击、动态老化、高温存储、检漏和常温终测等。更多还原

【Abstract】 This paper mainly describes the burn-in screening techniques for universal on-ship microelectronics components. These techniques include early test at normal temperature, test at low temperature, test at high temperature, concussing test at high and low temperature, dynamic burn-in test, storage test at high temperature, leak checking test and the final test at normal temperature.更多还原