【作者】 刘大福； 杨力怡； 吴家荣； 洪斯敏；

【Author】 LIU Da-fu1,2,YANG Li-yi1,2,WU Jia-rong1,2,HONG Si-min1,2(1.State Key Laboratory of Transducer Technology,Shanghai Institute of Technical Physics,Chinese Academy of Sciences,Shanghai 200083,China;2.Key Laboratory of Infrared Imaging Materials and Devices,Shanghai Institute of Technical Physics,Chinese Academy of Sciences,shanghai 20083,China)

【机构】 中国科学院上海技术物理研究所传感技术国家重点实验室； 中国科学院上海技术物理研究所中国科学院红外成像材料和器件重点实验室；

【摘要】 开展了室温工作下的短波碲镉汞(SW-IRHgCdTe)红外探测器的温度加速实验研究。共进行了四组不同加速温度的实验,分别为333K、343K、353K和363K,按Arrhenius模型和lognormal分布对加速实验的结果进行了总结分析,提取了模型中的参数。根据参数得到了加速因子和300K下的平均失效率。计算表明器件的加速因子随温度的升高呈指数上升,工作温度300K下的平均失效率为2.02×10-6h-1。更多还原

【Abstract】 The temperature accelerating test of HgCdTe SWIR detectors working at the room temperature was studied.The samples were divided into four groups,accelerate temperature is 333 K,343 K,353 K and 363 K,respectively.The detectors were analyzed using Arrhenius relationship and lognormal distribution.Parameters,which were used to calculate accelerator-factor and mean failure rate,were obtained.The results show AF increasing exponential with temperature.Detectors mean failure rate at 300 K is 2.02×10-6 /h.更多还原