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诊断用的X线能谱测定的新方法

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【作者】 吴志儒； 小山； 正希；

【机构】 中国北京医科大学； 日本驹泽短期大学；

【摘要】 在实际使用诊断用X射线时,为了减少病人所受照射剂量和优化图像,了解诊断用X线发生装置中放射出的X线特性是很重要的。本文将就使用超小型硅半导体检测器来测定X线的能谱的新方法予以介绍。

  • 【会议录名称】 海峡两岸医疗仪器学术会议论文集
  • 【会议名称】第二届海峡两岸医疗仪器学术会议
  • 【会议时间】1995-04-17
  • 【会议地点】中国福建福州
  • 【分类号】R814
  • 【主办单位】中国仪器仪表学会医疗仪器分会
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