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AlSb多晶薄膜的性质表征
CHARACTERIZATION OF POLYCRYSTALLINE ALSB THIN FILMS
【作者】 杨凯; 武莉莉; 张静全; 冯良桓; 雷智; 王静雅; 徐福; 施琼; 蔡伟; 李卫; 蔡亚平; 黎兵; 郑家贵;
【Author】 Kai Yang,Li li Wu,Jingquan Zhang,Lianghuan Feng,Zhi Lei,Jingya Wang,Fu Xu,Qiong Shi,Wei Li, Yaping Cai,Bing Li,Wei Cai,Jiagui Zheng (The College of Materials Science and Engineering,Sichuan University,Chengdu,P.R.China,610064.)
【机构】 四川大学材料科学与工程学院;
【摘要】 本文研究用于太阳电池的AlSb多晶薄膜的性质。用几何靶磁控溅射方法在石英玻璃衬底上沉积了约460nm厚的AlSb薄膜,然后在580-650℃的温度下进行了1个小时的真空退火处理。X射线衍射谱显示退火后的AlSb多晶薄膜为闪锌矿结构,平均晶粒尺寸约31nm。Hall效应测试结果表明薄膜为P型半导体。用原子力显微镜观察到薄膜的表面平整。通过紫外-可见光透射谱计算得到其间接禁带宽度为1.53eV。实验结果说明了用简单方法制备AlSb多晶薄膜的的可行性和其在太阳电池中的应用潜力。
- 【会议录名称】 第十届中国太阳能光伏会议论文集:迎接光伏发电新时代
- 【会议名称】第十届中国太阳能光伏会议
- 【会议时间】2008-09-19
- 【会议地点】中国江苏常州
- 【分类号】TM914
- 【主办单位】中国可再生能源学会、江苏省常州市人民政府、中国可再生能源学会太阳能光伏专委会