辐照损伤后BGO闪烁晶体的微观力学性能分析

【作者】 王红； 赵景泰； 徐家跃； 金敏；

【机构】 中国科学院上海硅酸盐研究所国家重点实验室； 中国科学院研究生院；

【摘要】 <正>闪烁体在核医学、高能物理、地质探矿、安全检查等领域应用^[1]过程中,由于辐照粒子对晶体的作用,使其受到辐照损伤,闪烁晶体内部的缺陷增加,闪烁效率较大下降,辐照强度降低^[2]。但是,国内外学者主要研究闪烁晶体辐照损伤的机理及其对闪烁性能的影响,而忽略了闪烁晶体在器件应用中的另一个关键问题,即晶体的力学性能。内部缺陷的增加,色心的聚集等不仅影响闪烁性能,而且对其力学性能也会产生较大影响,甚至可能会导致闪烁晶体的破裂等而不能继续正常使用。Bi₄Ge₃O₁₂晶体作为一种综合性能优良的新型闪烁晶体材料,具有光产额高,闪烁衰减时间短,化学性能稳定等优点更多还原