掠入射X射线衍射方法研究α相聚芴薄膜的结晶性

【作者】 万贺； 李海东； 莫志深； 张吉东；

【机构】 中国科学院长春应用化学研究所,高分子物理与化学国家重点实验室； 长春工业大学化学工程学院；

【摘要】 <正>共轭聚合物因可以制作柔性大面积光电器件而引起了有关科学工作者越来越大的研究兴趣,聚芴是其中一种典型的光电材料,其薄膜的结晶性对相应光电性能有很大影响。然而由于玻璃等基底的干扰很难用常规X射线衍射方法进行表征。掠入射X射线衍射是一种可以消除基底干扰并增强衍射信号的新方法,这里我们用它对均聚辛基芴（PFO,结构见图1）α相（正交晶系,a=2.56nm,b=2.34nm,c=3.32nm）的薄膜的结晶性进行了表征。用PFO（购自Aldrich-Sigma公司）的10mg/ml甲苯溶液以3000rpm转速旋涂成薄膜（～60nm）,然后置于氮气保护的热台中120℃处理30分钟。图1为样品的紫外—可见吸收光谱和荧光光谱(λ_ex=380 nm),385nm的吸收峰与440nm的吸收带边以及432nm、更多还原