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双正交微波幅相测试系统
【机构】 北京航空航天大学；
【摘要】 双正交检波式微波振幅相位测试系统是一种精度高、成本低且使用简便的新型微波幅相测试系统。在X波段,其振幅测试精度可达0.04dB,相位测试精度为0.5度。该系统可广泛应用于空间电磁场的幅—相分布测试、天线方向图测试以及RCS测试等众多领域。
- 【会议录名称】 1997年全国微波会议论文集(下册)
- 【会议名称】1997年全国微波会议
- 【会议时间】1997-09
- 【会议地点】中国山东青岛
- 【分类号】TN015
- 【主办单位】中国电子学会微波分会