开式腔端板表面电阻定标的一种新方法

【作者】 徐得名； 李兆年；

【机构】 上海科技大学；

【摘要】 七十年代以来,出现了许多新型微波陶瓷材料,它们具有品质因素高,介电常数高和温度系数小等特点。随着新型材料的出现,解决中、高介电常数材料的测试问题成了一项重要课题。到目前为止,CONH等人的介质腔法仍然是测量中、高介电常数的主要方法。1977年国际电工委员会推荐,对于工作频率高于3GH z、介电常数ε_r>5的材料,采用开式腔测试方法。但是,用该方法测量材料损耗特性,至今仍遇到问题,主要是介质腔两端板表面电阻的精确定标问题。1976年KOBAYASHI等人用同一块材料制成两只谐振频率相同的TE₀₁₁和TE₀₁₂或TE₀₁₃模介质谐振腔,来标定表面电阻,与以前方法相比,此方法使用方便,但要保证两只腔体材料相同是不易做到的,而且尺寸误差因素的影响也随之增加。本文提出采用既能工作在TE₀₁₂模又能工作在TE₀₂₁模的单只介质腔来定标端板表面电阻的新方法,作者称之为"单腔双模定标法",以避免或减少上述方法的弊端,实验证实了该方法是正确可行的。更多还原