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数字无线电系统选择性衰落“特征”(Signature)的实验室测量方法

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【作者】 酆广增

【机构】 南京邮电学院

【摘要】 无线电信道属时变信道,其衰落现象常是随机的,其中由多径传播引起的选择性衰落特别引人注意,因为它对地面无线电中继系统,特别是对高速数字无线电中继系统的影响较大,因此探讨数字无线电系统对选择性衰落敏感程度的测量方法具有重大现实意义。根据近几年来的研究成果,IEC于1984年3月提出了一个实验室测量方法,征求各IEC成员国的意见,以便成为数字无线电系统对选择性衰落敏感程度的标准测量方法。本文旨在阐述这种IEC提出讨论的测量方法本身以及如何借助测量的结果来比较精确地估计实际数字无线电中继电路中断时间,供国内有关厂所参考。本文第三部份在修正Vasantk等人关于τ_c公式的基础上,将M.Emshiller和Vasantk等人的工作结合起来,使利用选择性衰落特性曲线估计实际数字无线电系统中断时间的闭合公式付诸实用。

  • 【会议录名称】 1985年全国微波会议论文集
  • 【会议名称】1985年全国微波会议
  • 【会议时间】1985-11-01
  • 【会议地点】中国陕西西安
  • 【分类号】TN925
  • 【主办单位】中国电子学会微波分会、中国通信学会微波通信委员会
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