【作者】 刘肄倬； 王宏； 杨志家； 马继开； 金郑华；

【Author】 Liu Yizhuo~(1 2) Wang Hong~2 Yang Zhijia~2 (1 Graduate School of the Chinese Academy of Sciences Beijing 100039 2 Shenyang Institute of Automation Chinese Academy of Sciences Liaoning Shenyang 110016)

【机构】 中国科学院沈阳自动化研究所工业信息学重点实验室； 中国科学院研究生院；

【摘要】 随着FPGA的发展,FPGA测试技术也得到了很快地发展。因为FPGA的结构和传统专用集成电路有着本质的区别,在FPGA中不能形成可测性设计电路,但它的可编程能力决定了其测试电路可以通过编程的方法来实现。本文讨论了XilinxXC4000系列FPGA中互连资源的自动测试方法。提出了一种新的测试资源坐标定位方法,使得测试软件能够将测试配置转换成器件配置,并搭建了硬件测试平台,实现实体FPGA芯片测试。更多还原

【Abstract】 With the development of FPGAs testing technology for FPGAs has been developing.Because the structures of FPGAs are different from ASIC the DFT circuits cannot be implemented Its ability of programmable determines that the test circuits can be implemented by programming This paper discusses the testing methods for the interconnects of Xilinx XC400 serial FPGAs A new TC to DC method is provided TC to DC is a key problem for testing FPGAs The hardware flat is built Testing a real FPGA chip is achieved.更多还原