【作者】 姜岩峰； 鞠家欣； 张晓波； 杨兵； 于韶光；

【Author】 Jiang Yanfeng Ju Jiaxin Zhang Xiaobo Yang Bing Yu Shaoguang (Microelectronic Center,College of Information Engineering,North China University of Technology,Beijing 100144,China Beijing Institute of Auto-Testing Technology,Beijing,100088,China)

【机构】 北方工业大学信息工程学院微电子中心； 北京自动测试技术研究所；

【摘要】 针对模拟集成电路在线测试困难的特点,本文基于BIST结构对模拟集成电路的测试提出了一种新的测试方案,这种算法在测试电路中易于实现,并且容易嵌入到待测芯片中,为模拟集成电路可测试性设计提出了一种新的测试结构和测试算法。更多还原

【Abstract】 Based on the difficulty faced in on-line testing of analog integrated circuit,a new measurement has been proposed with BIST structure,which can be used for analog circuit testing.This method can be easily implemented in circuit and be embedded in the tested circuit.更多还原