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偏最小二乘法在X射线荧光分析矿浆品位中的应用
【机构】 四川大学原子核科学技术研究所,辐射物理及技术教育部重点实验室；
【摘要】 <正>在线矿浆品位分析对选矿浮选过程起着非常关键的作用。X射线荧光分析(XRF)具有精确、不破坏样品等优点,结合偏最小二乘(PLS)法可以同时测定多组分混合物。本文运用X射线荧光分析技术结合偏最小二乘法,对30个矿粉样品的品位进行了分析,样品的
【关键词】 X射线荧光分析；
偏最小二乘法；
MonteCarlo模拟；
矿浆品位；
- 【会议录名称】 第十四届全国核物理大会暨第十届会员代表大会论文集
- 【会议名称】第十四届全国核物理大会暨第十届会员代表大会
- 【会议时间】2010-11-01
- 【会议地点】中国安徽合肥
- 【分类号】TD923
- 【主办单位】中国核物理学会