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Windows界面下的正电子寿命分析程序
【机构】 武汉大学物理科学与技术学院湖北省核固体物理物理重点实验室；
【摘要】 <正>正电子湮没技术因其对材料电子密度的高度敏感性而成为一种研究电子结构和缺陷性质的有力手段。通常,实验测得的正电子寿命谱可以近似的表示为有限个指数函数衰减项与仪器分辨函数的卷积和常数本底之和,经过最小二乘法拟合后可以得到各寿命分量的寿命值及其相应的强度大小。国际上通用的正电子寿命谱拟合程序PATFIT可以以多种灵活的
- 【会议录名称】 第十届全国正电子湮没谱学会议论文集
- 【会议名称】第十届全国正电子湮没谱学会议
- 【会议时间】2009-11-01
- 【会议地点】中国广西南宁
- 【分类号】TP319
- 【主办单位】中国科学院核分析技术重点实验室、广西大学物理科学与工程技术学院