节点文献
数字式正电子寿命谱仪
【机构】 武汉大学物理科学与技术学院湖北省核固体物理正电子实验室；
【摘要】 <正>正电子是研究材料微结构的灵敏探针,被广泛地应用于研究凝聚态材料电子结构和缺陷性质。传统正电子谱仪具有的仪器分辨函数大小一般在200-400ps(半高宽)范围内,这种谱仪分辨能力限制了对材料中短寿命成分的研究。数字正电子寿命谱仪正是基于提高正电子寿命谱分辨本领的需要而发展起来的,它简化了许多模拟设备器件,同时具有高的采样率和带宽,可以很有效地提高时间分辨率,从而能提高测量精度,拓宽研究领域。本文介绍了一种利用数字示波器实现的数字式正电子寿命谱仪,目前在该谱仪上我们得到了半高宽为224ps的分辨函数,比利用同样探头组成的模拟谱仪分辨能力提高了约40 ps。
- 【会议录名称】 第十届全国正电子湮没谱学会议论文集
- 【会议名称】第十届全国正电子湮没谱学会议
- 【会议时间】2009-11-01
- 【会议地点】中国广西南宁
- 【分类号】TH744.1
- 【主办单位】中国科学院核分析技术重点实验室、广西大学物理科学与工程技术学院