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模数转换器(ADC)抗辐射性能试验测试技术研究

Study on Analog-to-Digital Converters Radiation-tolerant Performance’s Test Technologies

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【作者】 王旭利许献国詹峻岭周启明

【Author】 WANG Xu-li~(1,2),XU Xian-guo~2,YAO Yuan-cheng~1,ZHOU Qi-ming~2 (1.Southwest University of Science and Technology,Mianyang 621010,China; 2.Institute of Electronics Engerning,CAEP,Mianyang 621900,China )

【机构】 中国工程物理研究院电子工程研究所

【摘要】 本文介绍了模数转换器(ADC)抗辐射性能试验测试技术的国内外研究现状,以及获得的相关结论。在此基础上提出实时测量模数转换器在辐射环境下工作的动态性能参数来表征器件抗辐射性能的研究思路,同时也提出了对现有模数转换器辐射性能测试系统的改进建议。

【Abstract】 The survey of the analog to digital converters radiation tolerant performance’s test technologies are introduced,it also present the conclusions.On the basis of these technologies it presents test the dynamic parameters of the ADC operating in the radiation environment to study the radiation tolerant performance of the ADC,it also advises some improved methods of the radiation tolerant performance test system of the ADC.

  • 【会议录名称】 第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会论文集
  • 【会议名称】第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会
  • 【会议时间】2009-07-01
  • 【会议地点】中国辽宁沈阳
  • 【分类号】TN792
  • 【主办单位】中国电子学会核电子学与核探测技术分会抗辐射电子学与电子脉冲专业委员会、中国核学会核电子学与核探测技术分会抗辐射电子学与电子脉冲专业委员会、中国工程物理研究院电子工程研究所
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