节点文献
PCF环偏振耦合强度温度特性实验研究
【机构】 北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院；
【摘要】 <正>本文以光子晶体光纤环为研究对象,利用白光干涉法测试了不同温度下保偏光子晶体光纤环和普通保偏光纤环内部的偏振交叉耦合强度分布,分析了光纤环中固定耦合点不同温度下的偏振耦合强度变化。结果表明,在-40℃到50℃的温度范围内,保偏光子晶体光纤环偏振耦合强度最大变化率为0.97%;普通保偏光纤环偏振耦合强度的变化率为4.71%,约为保偏光子晶体光纤环的5倍。保偏光子晶体光纤环较普通保偏光纤环的偏振耦合强度具有更好的温度稳定性。
- 【会议录名称】 第十五届全国光学测试学术交流会论文摘要集
- 【会议名称】第十五届全国光学测试学术交流会
- 【会议时间】2014-10-26
- 【会议地点】中国江西南昌
- 【分类号】TN253
- 【主办单位】中国光学学会光学测试专业委员会