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激光近场科学CCD面响应非均匀性校正技术研究
【机构】 中国科学院西安光学精密机械研究所；
【摘要】 <正>科学CCD在第三代ICF参数测量系统中大量应用,其主要功能是借助取样光路来测量主光路高能脉冲激光的近场分布,衡量主光路的激光光束质量。CCD探测器的面响应非均匀性是一种固定图形噪声,由探测器的加工工艺、材料、温度、和偏置情况等多种因素造成,同时,激光散斑也影响着CCD本身的面响应非均匀性。激光近场分布测量时,科学CCD作为测量设备,本身的面响应非均匀性影响着测试结果。为减少科学CCD在近场测试时引入的本底误差,提高测试结果的置
- 【会议录名称】 第十四届全国光学测试学术讨论会论文（摘要集）
- 【会议名称】第十四届全国光学测试学术讨论会
- 【会议时间】2012-09-21
- 【会议地点】中国四川绵阳
- 【分类号】TN386.5
- 【主办单位】中国光学学会光学测试专业委员会