激光强度分布测量漫散射取样技术研究

【作者】 庞淼； 周山； 吴娟； 荣健； 高学燕； 胡晓阳；

【机构】 电子科技大学物理电子学院； 中国工程物理研究院应用电子学研究所；

【摘要】 <正>激光强度分布是激光束参数的重要内容之一,激光强度分布的测量对于诊断与评估激光系统的性能具有重要意义,目前激光强度分布测量最主要应用的是成像法和阵列探测器法,不论哪种方法,都需要首先对激光束进行取样和衰减,减少激光入射角度影响、对激光束进行高分辨力、高占空比取样是准确测量激光强度分布的关键。为了克服现有技术中取样和衰减的缺点,利用漫散射光的特性,提出了漫散射取样和衰减方法。对材料散射特性进行了试验研究,表明反射光和透射光光强分布与理想漫散射基本符合;当入射角度变化时,透射光强的分布保持不变;散射光与入射光呈线性响应关系。给出了散射取样衰减的一般结构,直更多还原