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光学元件微吸收特性测量仪研制进展
【机构】 中国工程物理研究院应用电子学研究所；
【摘要】 <正>在高能激光系统中,绝大部分光学元件表面均镀有光学膜层。然而即便是很微弱的吸收也足以对元件膜层产生显著的影响。为减小元件薄膜吸收所造成的影响,必须对高能激光系统中强光元件的吸收特性进行控制,有效降低元件薄膜对强激光的吸收。本文采用表面热透镜法,研制了一台光学元件微吸收特性测量仪。技术指标包括,光学平台:1.2 mm×2.4 mm;抽运光要求:3抽运光通道(1.319μm,1.064μm,0.532μm);20W(max),CW;带可见指示光;最大测试口径:不小于Φ300mm;
- 【会议录名称】 第十四届全国光学测试学术讨论会论文（摘要集）
- 【会议名称】第十四届全国光学测试学术讨论会
- 【会议时间】2012-09-21
- 【会议地点】中国四川绵阳
- 【分类号】TH74
- 【主办单位】中国光学学会光学测试专业委员会