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基于激光频率分裂效应的光学位相延迟测量原理及仪器
【作者】 张书练；
【机构】 清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室；
【摘要】 <正>1、背景光学材料和元件内都有残存内应力,光学上表现为双折射,其对光学系统的性能(如成像质量)负面影响很大。光学波片作为基本光学元件,应用于光通信,光存储,干涉仪,矿石分析等领域。光学元件内应力、双折射和波片相位延迟可统称光学元件相位延迟。多年来,常用的测量光学元件相位延迟的方法存在诸多问题:①测量重复性不高于1%,已无提高余地;②测量仪器自身系
- 【会议录名称】 第十三届全国光学测试学术讨论会论文（摘要集）
- 【会议名称】第十三届全国光学测试学术讨论会
- 【会议时间】2010-07-18
- 【会议地点】中国湖北武汉
- 【分类号】TN606
- 【主办单位】中国光学学会光学测试专业委员会