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欠采样系统的MRTD测试方法的研究
【机构】 北京跟踪与通信技术研究所；
【摘要】 <正>针对第二代红外成像系统普遍为欠采样系统的事实,通过MRTD测试方法在空间域和频率域成像过程的仿真,详细分析了该方法在对分辨能力和作用距离评估时存在的不足,并指出了这种不足产生的原因。对比分析了TRM3、DMRT、TOD、和NVO-MRT这四种代替测试方法的工作原理和优缺点,根据现有测试条件,
- 【会议录名称】 第十二届全国光学测试学术讨论会论文（摘要集）
- 【会议名称】第十二届全国光学测试学术讨论会
- 【会议时间】2008-07-20
- 【会议地点】中国吉林长春
- 【分类号】TN215
- 【主办单位】中国光学学会光学测试专业委员会