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基于散射光波动特征的超细颗粒粒径测量
【机构】 山东理工大学电气与电子工程学院； 上海理工大学光学与电子信息工程学院；
【摘要】 <正>一、引言光散射技术是近年来得到最广泛应用的颗粒测量方法,该方法一般是通过测量散射光强的空间分布来获取颗粒的粒径信息。对于粒径小于1μm的超细颗粒,由于散射光强的角分布与颗粒大小无关,所以不能通过散射光的空间分布来确定颗粒粒径的大小,而是通过研究空间某一点的散射光强随时间涨落来得到颗粒的粒径信息。前者被称为静态光散射(Static light scattering简称SLS),后者则被称为动态光散射(Dynamic light scattering简称DLS)。
- 【会议录名称】 第十一届全国光学测试学术讨论会论文（摘要集）
- 【会议名称】第十一届全国光学测试学术讨论会
- 【会议时间】2006-08-20
- 【会议地点】中国山东青岛
- 【分类号】O436.2
- 【主办单位】中国光学学会光学测试专业委员会