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基于位图的光纤不圆度测量
【机构】 南京信息工程大学电子工程系；
【摘要】 <正>光纤不圆度是光纤制品的一个重要性能参数,对它的测量国际电工委员会制定了标准测量方法,并根据标准的要求研制了相应专门测量仪器,如南京理工大学早在90年代中期就研制出基于显微测量术的光纤不圆度测量仪。本文提出的方法就是在该仪器原理的启发下产生的。具体实施方案是将待测光纤两端研磨,光纤两端面与纤芯轴垂直,以波长为650nm的半导体激光倾斜投射到其中一个端面上,在另一端面输出激光,输出的激光束截面为环状。如果待测光纤的端面是理想圆,则输出光束环为理想圆环,若待测光纤的端面不是理
- 【会议录名称】 第十一届全国光学测试学术讨论会论文（摘要集）
- 【会议名称】第十一届全国光学测试学术讨论会
- 【会议时间】2006-08-20
- 【会议地点】中国山东青岛
- 【分类号】TN253
- 【主办单位】中国光学学会光学测试专业委员会