节点文献
光学元件的PV、POWER与N、△N关系的探讨及其它
【作者】 徐德衍；
【机构】 中国科学院上海光机所；
【摘要】 <正>近十多年来,国外干涉仪的不断引入,导致我们一方面学习和挖掘其评价光学元件、波面的软件功能,另一方面,其提供的光学元件面形的技术参数与传统的、习惯的方式有较大的差异;与此同时,评价光学元件的国际标准(ISO 10110)已逐渐被国内同行了解和认同。但是,国际标准、我国国标及美国标准判读光圈是否存在差异?如何从传统的(例如,"N、△N")评价中转换和扩展到POWER、RMS、PV的表证以及波面的PV值何时采用"移出"(Remove)后的PV值来评价。借用波前"相关性"的概念可以粗略推算聚焦弥散斑的
- 【会议录名称】 第十一届全国光学测试学术讨论会论文（摘要集）
- 【会议名称】第十一届全国光学测试学术讨论会
- 【会议时间】2006-08-20
- 【会议地点】中国山东青岛
- 【分类号】TH74
- 【主办单位】中国光学学会光学测试专业委员会