强光系统光学元件波前相位梯度分析

【作者】 张蓉竹； 杨春林； 许乔； 蔡邦维；

【机构】 四川大学光电系； 成都精密光学工程研究中心；

【摘要】 <正>在ICF驱动系统中,为了防止因能量过于集中而产生的各类非线性效应,整个系统都采用了大口径光学元件以获得大截面半径的激光光束,大口径光束最终经过聚焦成为足够小的光斑通过靶洞进入靶室。因此光斑尺寸、功率密度、光学质量等成了核聚变产生所必须考虑的参数。光学元件的加工质量是影响激光光束质量的最主要因素之一,它直接关系着光束的聚焦性能,要想达到ICF系统需要的聚焦光斑性能要求,就必须对所使用的光学元件进行精确的评价和严格的控制。在光学检测评价过程中,有多种参数可供使用,常用的有P-V、RMS,它们都能很好地描述元件整个表面的统计性质,进而能较好的描述激光光束经过元件后波前的畸变情况。但是更多还原