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纳米硅薄膜太阳电池工艺参数的优化与制备

Optimization of process parameters and preparation of nanocrystalline silicon films solar cells

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【作者】 赵而敬张维佳沈燕龙张静林军杨东杰Havugimana Jean Jacques

【Author】 ZHAO Er-jing,ZHANG Wei-jia,SHEN Yan-long,ZHANG Jing,LIN Jun, YANG Dong-jie,Havugimana Jean Jacques (School of Physics & Nuclear Energy Engineering,Beihang University,Beijing 100191,China)

【机构】 北京航空航天大学物理科学与核能工程学院

【摘要】 利用射频为13.56MHz的等离子体化学气相沉积(PECVD)设备,通过对电池的本征和N型纳米硅薄膜的制备工艺以及电池背电极的烧结工艺参数优化,制备出结构为Al栅极/ITO/N-nc-Si:H/I/P-c-Si/Al背电极异质结太阳电池。利用SEM,Raman,XRD等测试方法,对电池的膜层性能分析,结果表明:电池的本征膜层纳米硅晶粒在2~3nm之间,光学带隙在1.55~2.01eV之间变化可调;掺杂膜层的室温电导率优于3×10~1S/cm;背电极烧结完全达到硅铝共熔,形成良好的硅铝合金区。面积为20mm×20mm的电池开路电压达到532mV,短路电流达到116mA。

【Abstract】 The solar cells which structure is Al /ITO/N-nc-Si:H/I/P-c-Si/AKBSE) were prepared using the 13. 56MHz RF plasma chemical vapor deposition(PECVD) by optimizing process of intrinsic,doping nanocrystal-line silicon films and optimizing sintering parameters of back electrode,respectively.Properties of the thin films were characterized by SEM,Raman,XRD and other appropriated tests.The results show that nano-silicon grain size is between 2-3nm,the nano-silicon optical band gap is about 1.55-2.OleV;The room-temperature conductivity of doping films is more than 3×101 S/cm;Silicon aluminum back electrode become to alloy,the solar cell with 20mm×20mm area achieves high open circuit voltage(Voc = 532mV) and short circuit current(Isc = 116mA).

【基金】 国家高技术研究发展计划(863计划)资助项目(2008AA05Z424)
  • 【会议录名称】 第七届中国功能材料及其应用学术会议论文集(第3分册)
  • 【会议名称】第七届中国功能材料及其应用学术会议
  • 【会议时间】2010-10-15
  • 【会议地点】中国湖南长沙
  • 【分类号】TM914.42
  • 【主办单位】中国仪器仪表学会仪表材料分会、重庆仪表材料研究所、中南大学、《功能材料》期刊社
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