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烧结工艺对Ru-基厚膜应变电阻性能的影响

The Effect of Sintering Process in Ru-based Thick Film Strain Resistoer

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【作者】 马以武宋箭常慧敏王英先

【Author】 Ma Yiwu Song Jian Chang Huimin (State Key Laboratories or Transducer of Technology,Hefei Institute of Intelligent Machines,Chinese Academy of Sciences,Hefei,230031,China)

【机构】 中国科学院合肥智能机械研究所传感技术国家重点实验室

【摘要】 本文讨论了烧结峰温TM对厚膜应变电阻性能的影响。实验证明,烧结温度对不同Ru-基厚膜应变电阻的影响不同:RuO2>Bi2Ru2O7>Pb2Ru2O7-y;随着TM上升,方阻R下降,电阻温度系数TCR上升,应变系数GF下降;导电相合成温度高,R值较大,TCR略大,GF较大;但TCR和GF值并不完全依赖于R和TM。采用厚膜电阻的隧道阻挡层导电机理和液相烧结模型对实验结果进行了探讨。

【Abstract】 This paper discussed the effect of peak temperature(TM) on thick film strain resistor(TFSR). The stability of TFSR performance in the different sintering temperature are immerged:RuO2>Bi2Ru2O7>■Ru2O7-y.The conducting component of TFSR were prepared under different Ru- based materials and sinter■g conditions.The sheet resistance of TFSR decreases and temperature coefficient of resistance(TCR) becomes more positive with increasing peak temperature(TM),gauge factor(GF) is related to the conducting component materials and surface area.The conduction mechanism of TFSR and liquid phase sintering model were discussed in explaining the value of R,TCR,GF.

  • 【会议录名称】 第三届中国功能材料及其应用学术会议论文集
  • 【会议名称】第三届中国功能材料及其应用学术会议
  • 【会议时间】1998-10-13
  • 【会议地点】中国重庆
  • 【分类号】TM54
  • 【主办单位】中国仪器仪表学会仪表材料分会、中国金属学会功能材料分会、中国化学会、中国物理学会发光分科学会、机械工业部重庆仪表材料研究所、北京有色金属研究总院、清华大学、中国科技大学、南京大学、吉林大学、东北大学、北京科技大学、天津大学、重庆大学、四川联合大学、电子科技大学、福州大学、北京航空航天大学、湖南大学、大连理工大学、华中理工大学、北京工业大学、合肥工业大学、《功能材料》编辑部、重庆市科学技术委员会
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