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杆箍缩二极管X射线焦斑的测量

X-ray spot measurement for rod-pinch diode radiographic source

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【作者】 宋顾周朱宏权韩长材马继明张占宏李宏云杨海亮邱爱慈

【Author】 SONG Gu-zhou,ZHU Hong-quan,HAN Chang-cai,MA Ji-ming,ZHANG Zhan-hong, LI Hong-yun,YANG Hai-liang,QIU Ai-ci (Northwest Institute of Nuclear Technology,Xi’an of Shaanxi Prov.710024,China)

【机构】 西北核技术研究所

【摘要】 X射线源的焦斑尺寸是反映射线源成像性能的重要参数。利用针孔成像法对MeV级脉冲X射线源的焦斑进行了测量。实验结果经过系统校正后,得到了焦斑的图像和调制传递函数,然后根据调制传递函数值为0.5时对应的空间频率确定出X射线源焦斑的尺寸,为射线源的性能评价提供了有效的数据。

【Abstract】 The rod-pinch diode(RPD) is a cylindrical pinched-beam diode that provides an intense pulsed small-diameter X-ray source.The X-ray spot size of RPD is a critical parameter to evaluate the spatial resolution performance for radiography.A measurement system using the thick pinhole imaging technique is established to measure the X-ray spot. Through the restoration of the spot blurring image,we obtain the X-ray spot image.The Hankel transform of spot image yields the modulation transfer function(MTF).The spot size,determined by the MTF,decrease from 0.86 mm for 1.2-mm-diameter rod to 0.745 mm for 0.8-mm-diameter rod.

【关键词】 杆箍缩二极管X射线焦斑针孔
【Key words】 Rod-pinch diodeX-raySpot sizePinhole
  • 【会议录名称】 中国核科学技术进展报告——中国核学会2009年学术年会论文集(第一卷·第7册)
  • 【会议名称】“创新——核科学技术发展的不竭源泉”——中国核学会2009年学术年会
  • 【会议时间】2009-11-18
  • 【会议地点】中国北京
  • 【分类号】TL816.1
  • 【主办单位】中国核学会
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