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电沉积银纳米膜的光学性质研究
【机构】 哈尔滨工业大学应用化学系；
【摘要】 X射线光电子能谱对电沉积制备的银纳米膜的测试表明,纳米膜中的银显示出银元素的特征峰;采用四探针测试仪测量银纳米膜的电导率,发现银纳米膜的电导率比纯银要下降两个数量级;X射线衍射分析发现,银纳米膜的衍射峰相对于纯银发生了宽化,并由此计算出平均颗粒大小;紫外-可见分光光度计测量了纳米膜的吸光度,其吸收峰发生"蓝移";银纳米膜的熔点也会变低;用椭圆偏振仪测试不同波长下的复折射率和复介电常数及纳米膜的厚度;用Z-扫描装置测量出银纳米膜具有非线性折射性质,并计算了非线性折射系数。
- 【会议录名称】 2004年全国电子电镀学术研讨会论文集
- 【会议名称】2004年全国电子电镀学术研讨会
- 【会议时间】2004-12-05
- 【会议地点】中国重庆
- 【分类号】TB383.1
- 【主办单位】中国电子学会生产技术学分会、重庆表面工程技术学会