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SI-GaAs单晶高温退火过程中的表面热损伤

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【作者】 宋萍张峰焱

【机构】 北京有色金属研究总院

【摘要】 <正>半绝缘砷化镓是高速集成电路、微波功率器件的重要衬底材料。随着电路和器件技术发展,对半导体衬底材料也提出新的挑战。其晶体均匀性和完整性近几年一直是研究的课题。

  • 【会议录名称】 面向21世纪的科技进步与社会经济发展(下册)
  • 【会议名称】中国科协首届学术年会
  • 【会议时间】1999-10-18
  • 【会议地点】中国浙江杭州
  • 【分类号】TG156.2
  • 【主办单位】中国科学技术协会、浙江省人民政府
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