高温超导薄膜微波表面电阻的测试

【作者】 张映敏；

【导师】 罗正祥；

【作者基本信息】 电子科技大学 ， 物理电子学， 2001， 硕士

【摘要】 本论文是国家超导中心下达的研究课题。自从1986年发现高温超导电性以来，高温超导材料的应用和研究已在微波技术领域展开，随着高温超导薄膜的广泛应用和制备技术的提高，迫切需要对高温超导薄膜的微波特性参数R_s进行研究。 本文详细介绍了一种采用低损耗高介电常数的兰宝石构成工作在TE_011+δ谐振模式的介质谐振器，引入一个简单的线性方程Q₀^-1=A+BR_s，通过对A、B及Q₀的值间接地求出R_s，这种方法能够对HTS薄膜的微波表面电阻R_s进行高灵敏度、非损伤的测量。 本文制作了一个工作在12GHz附近的兰宝石介质谐振器测试系统，利用它对HTS薄膜的微波表面电阻进行测试，测试灵敏度高，提高了整个测试系统的品质因素，可成功地用于单片φ30～50.8mm较大超导薄膜的R_s的测试，整个测试系统体积小，操作方便，且所需实验条件简单。更多还原

【Abstract】 In this paper the surface resistance of a single piece of HTS thin film is measured by using a TE01 mode sapphire resonator non-destructivity, at 77 K. By measuring the value of the resonator’s quality factor, the microwave surface resistance R3 of tested sample can be determined. A new measuring method is presented, surface resistance can be calculated by Q= A + BR3. To measure 5O.8mm HTS thin film, a special sapphire resonator working at 12GHz is made and used. The method has advantages of nondestructivity, single sample, high Q value, high sensitivity, convenient experiment setup, small volume, and flexibility in operation.更多还原