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针对不均匀光照高反光注塑工件图像的缺陷定位和分割
Defects location and segmentation for images of high reflection molding products with uneven illumination
【摘要】 光照不均匀的现象在高反光注塑工件检测过程中十分常见,对于缺陷的定位和提取造成了很大影响。为了解决注塑工件图像中普遍存在的光照不均匀问题,提高缺陷提取的成功率,提出了一种基于行像素灰度校正的不均匀光照图像增强算法,使用二次定位的阈值图像分割方法对柱状注塑工件进行了缺陷定位和分割。建立新的行像素灰度校正系数模型,对图像的每一行像素进行灰度校正;为获得更准确的分割定位,建立二次定位阈值图像分割模型。针对不均匀光照的注塑工件图像有更好的增强效果,其平均灰度、图像熵以及峰值信噪比等性能均有提高,利用二次定位的方法对柱状工件进行360度的缺陷定位及分割过程时间短,保证了实时在线检测时间上和质量上的可行性,具有计算机制造工程应用价值。
【基金】 广州市科技计划项目（201707010061）;华南理工大学中央高校业务费项（2018KZ14）;广东省科技计划项目国际科技合作领域（2019A050510007）
- 【文献出处】 制造业自动化 ,Manufacturing Automation , 编辑部邮箱 ,2021年02期
- 【分类号】TP391.41;TQ320.662
- 【被引频次】5
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