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GaAs多功能MMIC在片测试系统设计

Design of GaAs Multi-Function MMIC On-Wafer Test System

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【作者】 陈金远焦芳王逸铭林罡

【Author】 CHEN Jinyuan;JIAO Fang;WANG Yiming;LIN Gang;Nanjing Electronic Device Institute;

【机构】 南京电子器件研究所

【摘要】 GaAs多功能MMIC集成度高,数模混合驱动及测试需求考验测试平台的兼容性和稳定性。采用PXI平台模块化测试仪器结合矢量网络分析仪设计多功能MMIC在片测试系统,满足GaAs多功能MMIC的数模混合信号驱动、检测需求,保证测试稳定性。

【Abstract】 GaAs multi-function MMIC is highly integrated. The test compatibility and stability of the test platform are required by mixed digital and analog drive and test requirements. The multi-function MMIC test system is designed by using PXI platform modular test instrument and vector network analyzer to meet the demand of mixed signal driving and detection of multi-function MMIC, ensure the stability of test.

  • 【文献出处】 电子与封装 ,Electronics & Packaging , 编辑部邮箱 ,2021年03期
  • 【分类号】TN454
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