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ASME规范X射线透照工艺探究与实践

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【摘要】 本文针对ASME规范X射线检测所要求的底片几何不清晰度、黑度要求及变化范围、射线照射灵敏度等特殊要求,论述了所采取的工艺方法,包括从射线检测人员(NDE)的培训和考核和射线透照过程中的透照设备,工具和材料和具体透照工艺等方面,并提出了改进方向。

  • 【文献出处】 工程技术研究 ,Engineering and Technological Research , 编辑部邮箱 ,2019年01期
  • 【分类号】TG441.7
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