【作者】 许吉； 苏江涛； 刘来君； 汪洁； 贺永宁； 李永东； 王领航； 王大威；

【Author】 Xu Ji;Su Jiangtao;Liu Laijun;Wang Jie;He Yongning;Li Yongdong;Wang Linghang;Wang Dawei;Ministry of Education Key Lab of RF Circuits and System, HangZhou DianZi University;School of Microelectronics and State Key Laboratory for Mechanical Behavior of Materials, Xi′an Jiaotong University;College of Materials Science and Engineering, Guilin University of Technology;School of Electronic and Information Engineering, Xi′an Jiaotong University;Key Lab for Physical Electronics and Devices of the Ministry of Education, Xi′an Jiaotong University;Electronic Materials Research Laboratory, Key Laboratory of the Ministry of Education & International Center for Dielectric Research, School of Electronic and Information Engineering,Xi′an Jiaotong University;

【机构】 杭州电子科技大学射频电路与系统教育部重点实验室； 西安交通大学微电子学院金属材料强度国家重点实验室； 桂林理工大学材料科学与工程学院； 西安交通大学电子与信息工程学院； 西安交通大学电子物理与器件教育部重点实验室； 西安交通大学电子与信息工程学院电子陶瓷与器件教育部重点实验室国际电介质研究中心；