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光致折射率微小变化的观测方法  
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【英文篇名】 Observation Method of Slight Changes of Light Induced Refractive Index
【下载频次】 ★★
【作者】 吴泽军; 杨立森;
【英文作者】 Wu Zejun; Yang Lisen; Department of Physics and Electronic Information; Inner Mongolia Normal University;
【作者单位】 内蒙古师范大学物理与电子信息学院;
【文献出处】 激光与光电子学进展 , Laser & Optoelectronics Progress, 编辑部邮箱 2018年 06期  
期刊荣誉：中文核心期刊要目总览  ASPT来源刊  CJFD收录刊
【中文关键词】 非线性光学; 马赫-曾德尔干涉仪; 傅里叶变换; LiNbO3晶体; 光折变光子晶格;
【英文关键词】 nonlinear optics; Mach-Zehnder interferometer; Fourier transform; lithium niobate crystal; photorefractive photonic lattice;
【摘要】 光折变晶体内部产生的光致折射率的变化很小,不易实时观测,导致对写入晶格的质量无法鉴定。为了实时观测光折变光子晶格写入导致的更细微的光致折射率的时间和空间的变化,提出了在马赫-曾德尔光路的基础上引入放大的傅里叶变换的观测方法,极大地提高了测量的分辨率。该方法可以实时观测写入高密度光子晶格折射率的时间和空间变化,同时可以鉴定光子晶格的质量和均匀度,解决了高密度光子晶格制作质量的时间把控问题。与间接方法相比,该方法更加直观明了,所测数据更加准确、清晰,分辨率可方便地由傅里叶变换透镜的组合决定。
【英文摘要】 The photorefractive index generated inside the photorefractive crystal has a very small change and is not easy observed in real time,resulting in the failure to characterize the quality of the writing lattices.In order to observe the temporal and spatial variation of the photorefractive index caused by the writing of photorefractive photonic lattice,we propose amplified Fourier transform method based on Mach-Zehnder optical path.The resolution of the measurement is greatly improved.This method can observe t...
【基金】 国家自然科学基金(60467002); 内蒙古自然科学基金(2013MS0926)
【更新日期】 2018-08-08
【分类号】 O437;O734
【正文快照】 光折变光子晶格作为全光子元件的基础材料,具有很高的应用价值。由于光折变晶体内部产生的光致折射率的变化很小(一般在10-3左右)[1],加之光子晶格的格间距一般为波长量级,密度很高,在用干涉光诱导光折变光子晶格[2-3]时会出现写入光与写入光栅相互作用,形成新的空间不稳定光栅

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