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【英文篇名】 |
Determination of inorganic elements in particulate matter by wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometry |
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【下载频次】 |
★★★★★ |
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【作者】 |
高捷;
盛成;
申如香;
钱荣;
王群;
卓尚军; |
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【英文作者】 |
GAO Jie;
SHENG Cheng;
SHEN Ru-xiang;
QIAN Rong;
WANG Qun;
ZHUO Shang-jun;
Shanghai Institute of Ceramics;
Chinese Academy of Sciences; |
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【作者单位】 |
中国科学院上海硅酸盐研究所无机材料分析测试中心; |
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【文献出处】 |
分析试验室
, Chinese Journal of Analysis Laboratory, 编辑部邮箱
2018年 07期 期刊荣誉:中文核心期刊要目总览 ASPT来源刊 CJFD收录刊 |
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【中文关键词】 |
X射线荧光光谱;
空气滤膜;
无机元素;
NIST SRM2783; |
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【英文关键词】 |
WDXRF;
Particulate Matter(PM);
Inorganic elements;
NIST SRM2783; |
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【摘要】 |
无需麦拉膜或聚丙烯膜覆盖在空气滤膜样品表面,使用普通液体杯、氦气介质下就可直接用WDXRF测量环境空气中的无机元素。用建立的方法测定了大气颗粒物标准膜样品NIST SRM2783,测定出的元素结果与标准值的相对标准偏差最大仅为4.1%。用建立的方法测定了4个实际滤膜样品中的Na,M g,Al,Si,P,S,K,Ca,Ti,V,Cr,M n,Fe,Cu,Zn,Ba,Pb元素,并和等离子体质谱(ICP-MS)、等离子体光谱(ICP-OES)的结果比较,结果显示本方法可靠,能够满足目前的监测需求和广泛使用。 |
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【英文摘要】 |
Wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometry has been developed for 17 kinds of inorganic elements analysis in particulate matter without mylar or polypropylene film in helium medium. The certified reference materials NIST SRM2783 was employed for the quantitative determination of Na,Mg,Al,Si,P,S,K,Ca,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Cu,Zn,Ba and Pb. The maximum standard of relative standard deviation of the NIST SRM2783 was 4. 1%. Four particulate matter samples were then measured by WDXRF and ICP-MS( OES) simultane... |
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【基金】 |
国家大型科学仪器中心平台、上海市无机非金属材料分析测试专业技术服务平台(14DZ2292900);
国家重大科学仪器设备开发专项(2012YQ050076)资助 |
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【更新日期】 |
2018-07-25 |
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【分类号】 |
O657.34;X831 |
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【正文快照】 |
*通信作者,E-mail:sjzhuo@mail.sic.ac.cn环境中的颗粒物水平是评价空气污染的最主要指标[1-3]。而环境颗粒物中主要化学成分有无机元素,水溶性离子,有机碳,元素碳等,这些成分的分析测试数据能直接用于颗粒物来源的解析。目前国内外环境颗粒物中无机多元素的分析技术最常用的是 |
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