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DAST晶体XPS数据分析基准的讨论

Discussion of the Datum on XPS Data Analysis of DAST Crystals

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【作者】 蔺娴李雨辰王鑫

【Author】 LIN Xian;LI Yuchen;WANG Xin;No.46 Research Institute,Member of China Electronics Technology Group Corporation;

【机构】 中国电子科技集团公司第四十六研究所质检中心

【摘要】 为了方便地表征4-(4-二甲基氨基苯乙烯基)甲基吡啶对甲基苯磺酸盐(DAST)的性质,采用X射线光电子能谱仪(XPS)分别对两种原粉的DAST晶体、吸附有一定量水的DAST籽晶和新制备的DAST籽晶进行了表面元素分析。通过分析数据,并选取其中合适峰位的元素作为数据分析时的基准。结果表明,DAST晶体中的C、N、O元素均不适合作为XPS数据分析的基准元素,可能来源于表面沾污的Si元素也不能作为数据分析的基准,而将晶体中硫元素(167.50eV)作为基准,校准数据后分析C、N元素,其结果是合理的。

【Abstract】 In order to conveniently characterize the properties of DAST,two kinds of raw materials,the amethyst with a certain amount of water and newly prepared amethyst of the DAST crystals were analyzed by X-ray photoelectron spectroscopy.Select the appropriate element acted as a datum for data analysis.Results showed that C,N,O and Si coming from the surface contamination probably were not suitable for a datum.Sulfur(167.50eV)as a datum in the analysis of DAST crystals is quite reasonable through the analysis C and N after calibration.

【关键词】 DAST晶体XPS数据分析基准
【Key words】 DASTcrystalXPSdata analysisdatum
  • 【分类号】O734
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