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Spindt阴极可靠性物理问题

The Physics of the Reliability for Spindt Cathode

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【作者】 廖复疆

【Author】 LIAO Fu-jiang;Beijing Vacuum Electronics Research Institute;

【机构】 北京真空电子技术研究所大功率微波电真空器件技术国防科技重点实验室

【摘要】 本文研究了Spindt阴极不可靠的主要原因,是其结构中的肖特基二极管。将肖特基二极管从Spindt阴极中移去,可消除其打火现象;用浇铸法或其他方法在金属基片上制造微尖阵列,可以实现可靠的场致发射阴极;双栅极微尖阵列可以改善电子注的聚焦特性,有助于推动其在微波管和太赫兹管中的应用。

【Abstract】 The reliability improvement for Spindt cathode are discussed in this paper.The Schotteky diodes in Spindt cathodes are the sources for flashover along oxide walls in cathode cavities.Therefore,move the Schotteky diodes out of Spindt cathodes will improve the Spindt cathodes reliability.The Gray and Green molding process method can be used to make micro-tip array cathode on the metal substrate.Our and other group experiments show that high emission current could be obtained from this cathode and its life time also can be prolonged.

【关键词】 Spindt阴极场致发射肖特基二极管
【Key words】 Spindt cathodeField emissionSchotteky diode
【基金】 大功率微波电真空器件技术国防科技重点实验室军用电子预研基金项目(614280702011701)
  • 【文献出处】 真空电子技术 ,Vacuum Electronics , 编辑部邮箱 ,2017年06期
  • 【分类号】TN311.7
  • 【被引频次】1
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