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0.35μm CMOS工艺的品质因数时域测量电路  
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【英文篇名】 Circuit of time-domain quality factor measurement in 0.35μm CMOS process
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【作者】 任小娇; 张明; LLASER Nicolas; 越柏鹤; 庄奕琪;
【英文作者】 REN Xiaojiao; ZHANG Ming; LLASER Nicolas; YUE Baihe; ZHUANG Yiqi; School of Microelectronics; Xidian Univ.; IEF; Univ.Paris-Sud; Université Paris-Saclay;
【作者单位】 西安电子科技大学微电子学院; 基础电子研究所巴黎第十一大学巴黎萨克雷大学;
【文献出处】 西安电子科技大学学报 , Journal of Xidian University, 编辑部邮箱 2017年 02期  
期刊荣誉:中文核心期刊要目总览  ASPT来源刊  中国期刊方阵  CJFD收录刊
【中文关键词】 品质因数; 时域测量; 片上;
【英文关键词】 quality factor(Q-factor); time domain measurement; on-chip;
【摘要】 基于品质因数的时域测量方法,提出了一种新的可以片上集成的品质因数测量电路,不仅在特定频率能实现品质因数的精确测量,还可在保持电路精度的前提下,覆盖一定待测信号的频带.在采用之前提出的可重构电路的基础上,改进了峰值探测器的补偿方式,进行了系统精度和扩频所需的理论分析,有效指导了电路的设计.另外,数字控制逻辑的改进,将总功耗降低7.5%.并通过集成电路的方式在0.35μm CMOS工艺下实现此电路,在电源电压为5V,输入信号频率为1MHz的条件下,实现品质因数的相对误差小于±0.2%,并且在精度不变的情况下,将待测信号的频段扩展到100kHz~1.5MHz.
【英文摘要】 Based on the time-domain quality factor(Q-factor)measurement principle,an architecture which not only achieves an accurate Q-factor at the specific frequency but also covers a range of frequencies without any loss in Q-factor measurement accuracy is proposed.Based on a reconfigurable structure,an improved peak detector compensation method is presented.To guide the design of such an architecture,a theoretical analysis for reaching the required accuracy and expanding the input frequency range has been first d...
【更新日期】 2017-07-12
【分类号】 TN432
【正文快照】 2.基础电子研究所巴黎第十一大学,巴黎萨克雷大学,奥赛91405)随着物联网及可穿戴式装置需求的日益扩大,微电子机械系统(Micro Electro Mechanical Systems,MEMS)产业在过去五年中迅速发展,尤其伴随着CMEMS技术(互补金属氧化物半导体(ComplementaryMetal-Oxide-Semiconductor tr

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