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集中质量对模拟测头基频的影响  
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【英文篇名】 Influence of Basic Frequency of Concentrated Mass to Analog Probe
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【作者】 强怀博; 吴琼;
【英文作者】 QIANG Huaibo; WU Qiong; School of Mechatronic Engineering; Xi'an Technological University; School of Mechanical Engineering; Xi'an University of Architecture and Technology;
【作者单位】 西安工业大学机电工程学院; 西安建筑科技大学机电工程学院;
【文献出处】 西安工业大学学报 , Journal of Xi'an Technological University, 编辑部邮箱 2016年 12期  
期刊荣誉：ASPT来源刊  CJFD收录刊
【中文关键词】 集中质量; 基频; 模拟测头; 非线性;
【英文关键词】 concentrated mass; basic frequency; analogue probe; nonlinearity;
【摘要】 为了改善三维模拟测头的响应特性及其动态稳定性,对三维模拟测头进行了基频分析.将模拟测头的各主要组成部件简化为集中质量模型,采用模态分析方法分析了工作基频对响应特性及测量精度的影响.通过集中质量分布位置及其影响敏度分析,结果表明:集中质量及其位置对于测头系统基频的影响呈非线性关系.以集中质量为约束条件的频率响应特性分析可有效提高模拟测头动态性能及测量精度,为提高模拟测头测量精度及动态性能提供了新途径.
【英文摘要】 In order to improve the response and stability of 3Danalog probe,the fundamental frequency of the probe was analyzed.The main components of 3Danalog probe were simplified as concentrated mass model,the effect of basic frequency on response characteristic and measurement accuracy was analyzed.Focusing on the analyzing the distribution and influence sensitivity of concentrated mass,the results indicate that it is non-linear relationship between basic frequency and mass location of probe.The frequency response...
【基金】 陕西省教育厅重点实验室科研计划项目(2015JS043)
【更新日期】 2017-04-24
【分类号】 TG806
【正文快照】 在精密测量领域中,测头精度一直是制约测量系统总体精度的重要环节.由于接触式三维模拟测头具有测量精度高、效率高等优点,故在精密测量领域中被广泛应用.对于接触式三维模拟测头系统,为了能够有效提高测量精度,改善测头工作时的动态稳定性及其响应特性,需要在动态性能研究中对

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