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原位溅射型单次试开密码鉴别电路  
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【英文篇名】 In-situ sputtering type single-try discriminator circuit
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【作者】 王宇航; 高杨; 韩宾; 贾乐;
【英文作者】 Wang Yuhang; Gao Yang; Han Bin; Jia Le; School of Information Engineering; Southwest University of Science and Technology; State Key Laboratory of Particle Detection and Electronics; Institute of High Energy Physics; Chinese Academy of Sciences; Institute of Electronic Engineering; China Academy of Engineering Physics; National Key Laboratory of Fundamental Science of Micro/Nano-Device and System Technology; Chongqing University;
【作者单位】 西南科技大学信息工程学院; 核探测与核电子学国家重点实验室; 中国工程物理研究院电子工程研究所; 重庆大学新型微纳器件与系统技术国防重点学科实验室;
【文献出处】 强激光与粒子束 , High Power Laser and Particle Beams, 编辑部邮箱 2016年 11期  
期刊荣誉：中文核心期刊要目总览  ASPT来源刊  中国期刊方阵  CJFD收录刊
【中文关键词】 微电子机械系统; 原位溅射; 鉴别电路; 密码锁; 单次试开;
【英文关键词】 micro-electro-mechanical systems; sputtering; discriminator circuit; combination lock; single-try;
【摘要】 针对目前微机电系统密码锁中的鉴别器结构复杂、智能电子密码锁可靠性不高的问题,设计了一种N bit的原位溅射型单次试开密码鉴别电路。N bit的密码鉴别电路,由2 N(N级、每级2个)个原位溅射型OFF-ON开关按照每级二选一的逻辑、N级级联的形式构成;将原位溅射型OFF-ON开关(OFF态到ON态的单向切换具有不可逆特性)与具有熔断特性的保险丝按照装定密码对应的电路关系进行连接,构成了原位溅射型单次试开固态密码锁,可将此密码锁用于对安全性要求高的要害系统、设施中。为了获得原位溅射型OFF-ON开关中金属爆炸箔与叉指电极之间的间隙,给出了三种固态密码鉴别电路的微加工工艺方案。
【英文摘要】 As the structure of discriminator in the current micro-electromechanical system combination lock is complex and the reliability of electronic combination locks is poor,we designed an N bit in-situ sputtering single-try discrimination circuit to solve these problems.The N bit discrimination circuit is composed of 2 N(N-stage,two switches per stage)sputtering type OFF-ON switches and formed by alternative logic of each stage and N-stage series.The sputtering type OFF-ON switches(the one-way switch of the OFF ...
【基金】 国家自然科学基金项目(61574131); 中国工程物理研究院超精密加工技术重点实验室基金项目(2014ZA001); 核探测与核电子学国家重点实验室开放课题基金项目(2016KF02); 西南科技大学特殊环境机器人技术四川省重点实验室开放基金项目(14zxtk01)
【更新日期】 2016-11-07
【分类号】 TS914.211.7
【正文快照】 有些系统由于意外事故或者人为恶意破坏,可能导致生命、财产的灾难性损失或危害环境,这样的系统,则被称为“要害系统”[1]。用于“要害系统”安全性的微机电安全密码锁(MEMS safety lock),与普通密码锁相比,具有逐位鉴别/解锁、单次试开、误码锁定等独特的功能[2]。例如,高杨等

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