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应用于大面积光刻的激光图案检测系统
Interference lithography detection system in large area
【摘要】 基于激光干涉光刻的基本原理,设计了新型的可应用于大面积光刻的激光图案检测系统,并阐述了利用电荷耦合元件对光刻图案的CMOS实时检测及实现大面积光刻的方法。实验结果表明,使用激光干涉光刻技术可以产生大面积的亚微米级周期性图案。该方法提供了得到高分辨、无限焦深、大面积光刻的可能性。
【Abstract】 The laser interference lithography is applied to design a lithographic patterns detection system for large area lithography by using complementary metal oxide semiconductor(CMOS).Experiments show that laser interference lithography technique is feasible to produce the sub-micron periodic graphics in large area.It shows the potential of interference lithography on high resolution,infinite focal depth and large area.
【关键词】 激光干涉光刻;
压电陶瓷控制;
CMOS实时检测;
【Key words】 interference lithography; PZT control; CMOS real-time detection;
【Key words】 interference lithography; PZT control; CMOS real-time detection;
【基金】 国家自然科学基金资助项目(61176002);高等学校博士学科点专项科研基金资助项目(20112216110002);吉林省科技发展计划资助项目(201115157,20110704)
- 【文献出处】 中国科技论文 ,China Sciencepaper , 编辑部邮箱 ,2015年08期
- 【分类号】TN305.7
- 【被引频次】1
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