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应用于大面积光刻的激光图案检测系统

Interference lithography detection system in large area

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【作者】 侯煜胡贞王作斌翁占坤

【Author】 Hou Yu;Hu Zhen;Wang Zuobin;Weng Zhankun;College of Electronic Information Engineering,Changchun University of Science and Technology;International Research Centre for Nano Handling and Manufacturing of China,Changchun University of Science and Technology;

【机构】 长春理工大学电子信息工程学院长春理工大学国家纳米操纵与制造国际联合研究中心

【摘要】 基于激光干涉光刻的基本原理,设计了新型的可应用于大面积光刻的激光图案检测系统,并阐述了利用电荷耦合元件对光刻图案的CMOS实时检测及实现大面积光刻的方法。实验结果表明,使用激光干涉光刻技术可以产生大面积的亚微米级周期性图案。该方法提供了得到高分辨、无限焦深、大面积光刻的可能性。

【Abstract】 The laser interference lithography is applied to design a lithographic patterns detection system for large area lithography by using complementary metal oxide semiconductor(CMOS).Experiments show that laser interference lithography technique is feasible to produce the sub-micron periodic graphics in large area.It shows the potential of interference lithography on high resolution,infinite focal depth and large area.

【基金】 国家自然科学基金资助项目(61176002);高等学校博士学科点专项科研基金资助项目(20112216110002);吉林省科技发展计划资助项目(201115157,20110704)
  • 【文献出处】 中国科技论文 ,China Sciencepaper , 编辑部邮箱 ,2015年08期
  • 【分类号】TN305.7
  • 【被引频次】1
  • 【下载频次】116
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