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基于蚁群-遗传混合算法的系统芯片低功耗测试方案
【摘要】 针对系统芯片测试功耗快速增加的特点,提出了一种有效的低功耗测试方案。该方案将测试向量的海明距离作为测试功耗优化的目标,将测试功耗优化问题转化为对测试向量进行海明距离排序问题,采用一种改进的蚁群-遗传混合算法对测试向量进行排序,从而使测试功耗最低。针对ISCAS 89部分标准电路实验结果表明,该方案能有效的降低测试功耗。
【基金】 黑龙江省教育厅科学技术研究项目(12531565)
- 【文献出处】 黑龙江科技信息 ,Heilongjiang Science and Technology Information , 编辑部邮箱 ,2015年20期
- 【分类号】TN407;TP18
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