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红外系统杂散光测量装置  
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【英文篇名】 Stray Light Measurement Equipment for Infrared Optical System
【下载频次】 ★★★★☆
【作者】 张宪亮; 刘若凡; 苏红雨; 曾道全; 刘夏茹;
【英文作者】 ZHANG Xian-liang; LIU Ruo-fan; SU Hong-yu; ZENG Dao-quan; LIU Xia-ru; National Institute of Measurement and Testing Technology;
【作者单位】 中国测试技术研究院;
【文献出处】 红外技术 , Infrared Technology, 编辑部邮箱 2014年 12期  
期刊荣誉:中文核心期刊要目总览  ASPT来源刊  CJFD收录刊
【中文关键词】 红外系统; 杂散光; PST; 入射辐照度; 像面辐照度;
【英文关键词】 infrared system; stray light; point source transmission; incidence irradiance; image irradiance;
【摘要】 为了定量检测出红外系统的杂散辐射,建立了点光源透射法为理论基础的红外系统杂散光测量装置。采用功率5 W的CO2激光,通过扩束准直系统后,得到均匀的入射辐照度场;通过被测红外系统后,得到随视场角(-10°~-2.5°)与(2.5°~10°)变化的像面辐照度场分布,进而得到杂光指数PST,有效评价出红外成像系统对杂散光的抑制水平。
【英文摘要】 In order to quantitatively measure stray light, the stray light measure equipment is established for infrared optical system by a point source transmission method. With 5W CO2 laser expanding and collimating, it gets incidence irradiance uniform field. With CO2 laser collimated transmitting the measured infrared image system, it gets distribution of image irradiance and PST in accordance with the viewing angle(-10°~-2.5°) and(2.5°~10°). The stray light measure equipment can effectively evaluate the level of...
【更新日期】 2015-01-20
【分类号】 TN219
【正文快照】 0引言光学系统成像时,在像面上除了按正常光路成像外,尚有一些由非成像光线的辐射落在像面上,这些影响成像质量的有害光称为杂散光,简称杂光。杂光对光学系统像质的影响很大,由于光学系统中光学元件、机械部件等对光的反射、散射和衍射造成非成像光线在像面上扩散的现象,使得系

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